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Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE
Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE——用于几乎所有先进薄膜或产品晶片测量的先进多模计量 FilmTek™ 2000标准杆数-SE光谱椭圆偏振仪/多角度反射仪系统结合了尖端和
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Bruker椭偏仪 FilmTek 6000 PAR-SE
Bruker椭偏仪 FilmTek 6000 PAR-SE——用于IC器件开发和制造的先进多模薄膜计量学想了解相关产品,可联系上海尔迪仪器科技有限公司,拨打电话021-61552797FilmTek
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HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪
多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。
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HORIBA Auto SE一键式全自动快速椭偏仪
一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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Bruker 椭偏仪 FilmTek 2000M TSV
Bruker 椭偏仪 FilmTek 2000M TSV——用于半导体封装应用中高通量测量的先进计量系统 FilmTek™ 2000M TSV计量系统为先进的半导体封装应用提供了无与伦比的速度和精度
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SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台
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In-situ series 在线椭偏仪
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Bruker椭偏仪 FilmTek CD
Bruker FilmTek CD椭偏仪——多模态临界尺寸测量和先进薄膜计量学 FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们的领先解决方案,可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD
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UVISEL 2 VUV 真空紫外椭偏仪
专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高度准确性;独一无二的超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。
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